随着IC技术的快速发展，芯片需求量日益增加，芯片生产商与使用方都在寻找缩短芯片测试周期的方法。传统的探针台技术无法实现在不同温度、带电环境中对芯片进行失效分析测试。而且芯片测试内容不再局限于晶元和电极，器件、单片，系统级（板级）测试愈来愈受到青睐。
2210-LS专门为芯片的系统级测试而设计的，不仅可以在应用板上进行测试，并可以实现处于工作模式中芯片的系统级测试。2210-LS能够分析实际工作环境中遇到的问题，包括：
板级电源问题
板级失效分析
封装测试
内部模块设备接口和误差问题
模块间的问题比如混合信号接口相关问题
竞态条件问题
时钟域问题
手机板高低温测试
2210-LS系统级探针台模拟板级各种真实使用环境，不凝水不结霜，实时带电测试。可升级至-40℃至+125℃范围的系统级（板级）测试；测试范围广，不仅能够完成基本的直流分析，还能实现E/K波段分析。另外，2210-LS配有较大的防震、开放式稳定测试平台，可测试的应用板尺寸为0—10”×10”。
产品介绍：
2210-LS是真正意义上的系统级测试探针台，为用户真实模拟实际应用环境，用户完全根据实际应用，选择最合适的功能配置，确保以最佳的解决方案满足用户的需求。
光学防震桌尺寸为30”×36”，可容纳26平方英寸的应用板。
双向不锈钢滑动台覆盖整个应用板，测试更轻便、快捷，能同时容纳10个探针座。
显微镜可选择单物镜高放大倍数的A-Zoom显微镜、金相显微镜、体视显微镜、视频显微镜。
测试过程中，卡盘Z轴固定不动，显微镜能够自动聚焦，操作更方便、准确。
可移动、电隔离的应用板真空支撑座，可以放置不同厚度、不同尺寸的应用板，即使偏厚的应用板，仍可容纳进去。
探针座的锁定装置进一步增加了测试的稳定性。
独特的电缆槽更方便管理探针台的电缆以减小电磁干扰。
可定制升级附件：
卡盘（载物台）：最大可容纳系统板尺寸为10”×10”
显微镜及其移动基座
CCD显示模块
腔体屏蔽系统
2210-LS专门为芯片的系统级测试而设计的，不仅可以在应用板上进行测试，并可以实现处于工作模式中芯片的系统级测试。2210-LS能够分析实际工作环境中遇到的问题，包括：
板级电源问题
板级失效分析
封装测试
内部模块设备接口和误差问题
模块间的问题比如混合信号接口相关问题
竞态条件问题
时钟域问题
手机板高低温测试
2210-LS系统级探针台模拟板级各种真实使用环境，不凝水不结霜，实时带电测试。可升级至-40℃至+125℃范围的系统级（板级）测试；测试范围广，不仅能够完成基本的直流分析，还能实现E/K波段分析。另外，2210-LS配有较大的防震、开放式稳定测试平台，可测试的应用板尺寸为0—10”×10”。
产品介绍：
2210-LS是真正意义上的系统级测试探针台，为用户真实模拟实际应用环境，用户完全根据实际应用，选择最合适的功能配置，确保以最佳的解决方案满足用户的需求。
光学防震桌尺寸为30”×36”，可容纳26平方英寸的应用板。
双向不锈钢滑动台覆盖整个应用板，测试更轻便、快捷，能同时容纳10个探针座。
显微镜可选择单物镜高放大倍数的A-Zoom显微镜、金相显微镜、体视显微镜、视频显微镜。
测试过程中，卡盘Z轴固定不动，显微镜能够自动聚焦，操作更方便、准确。
可移动、电隔离的应用板真空支撑座，可以放置不同厚度、不同尺寸的应用板，即使偏厚的应用板，仍可容纳进去。
探针座的锁定装置进一步增加了测试的稳定性。
独特的电缆槽更方便管理探针台的电缆以减小电磁干扰。
可定制升级附件：
卡盘（载物台）：最大可容纳系统板尺寸为10”×10”
显微镜及其移动基座
CCD显示模块
腔体屏蔽系统
