电容电桥与标准电容

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半导体特性测试系统进行极低电流测量

特点

半导体器件的参数测试需要经常进行极低的电流测量，也称微电流测量。对于MOSFET器件，栅极电压控制MOSFET的开关即控制着漏极电流。关状态时的电流和从开状态至关状态时的切换电流(也称之为阈值电流)是超大规模CMOS电路非常重要的性能指标。现在的集成电路，关状态时的电流一般只有几个fA大小，为极低电流。因此，具备一套能够进行这类极低电流测量的半导体特性测试系统，就成为非常重要的研究手段。典型的半导体参数特性测试系统，常见主要有Keithley（现在Tektronix旗下）的4200系列和Keysight B1500系列。本文以4200为例进行介绍，与Keysight B1500系列大同小异。半导体参数特性测试系统通常由DC特性测试系统、开关矩阵、探针台和电缆等构成。然而在使用中更加普遍的现象是当配

黑体温度校准系统

特点

超高温黑体辐射温度源(超高温黑体炉)

AH2500A电容电桥对比试验结果

特点

2003年9月在四个校准实验室对AH2500A电容电桥进行了对比试验，取得了宝贵的试验数据，并对试验数据进行进一步分析，提出成组稳定性考核和间接溯源的设想，并用实例说明。试验数据由4家单位共享

HT-9802高温发射率测量系统

特点

Thermo Gauge的HT-9802是一套完整的基于Thermo Gauge成熟的石墨管设计的辐射率测量系统。该系统包括一个作为高温源的水平腔体，数字温度控制器，500 to 2800 C的光学高温计，用于发射率测量的辐射计，便携计算机和数据采集，测试软件。

纳米材料与器件的电性测量

特点

纳米材料与器件除了进行微尺度与结构等研究开发，进行电性测量也是必不可少的。使用正确的仪器和测量技术可以缩短测试时间、提高效率并可以获得更加客观真实的科研数据。对纳米材料与器件的电性测量不仅可以揭示其电学特性，而且可以揭示如纳米粒子态密度等基本特性。这些基本特性可用于预测和控制其物理特性，如拉伸强度、色彩及导热率等。专为纳米技术研究设计的仪器仪表在测量中已成为极其重要的科学仪器，为便于我们正确选择这些高灵敏度的仪器，及时掌握其领先的测量技术，从而实现快速、准确的测量，本文将对表征方法、态密度测定、电性测量方法与技术进行细致地分析。

Sutter 拉针仪/微操作器

电容电桥与标准电容

Razorbill 品牌产品

高温黑体炉系列

探针台系列

功函数测试

标准电阻/分流器系列

Kuchler Robert 膨胀计

Time Electronics

半导体特性分析

可编程电源系列

半导体特性测试系统进行极低电流测量

特点

黑体温度校准系统

特点

AH2500A电容电桥对比试验结果

特点

HT-9802高温发射率测量系统

特点

纳米材料与器件的电性测量

特点